1. روشهای پیشرفته شناخت مواد
المؤلف: / گردآوری عبدالکریم سجادی، فرهاد صبا.,سجادی
المکتبة: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (طهران)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ايكس ,اشعه ایکس ,میکروسکوپهای الکترونی, -- پراش سنج ,-- کاربردهای صنعتی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹ ۱۳۹۲
2. روشهای پیشرفته شناخت مواد: : مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: سجادی، عبدالکریم ۱۳۴۱ -
المکتبة: (سمنان)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹
3. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
پدیدآورنده : گردآوری عبدالکریم سجادی، فرهاد صبا
موضوع : شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
4. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: / گردآوری عبدالکریم سجادی و فرهاد صبا
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه‌ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹ ۱۳۹۱
5. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: سجادی، عبدالکریم ۱۳۴۱ -
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹
6. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: / گردآوری: عبدالکریم سجادی، فرهاد صبا
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳،
ر
۹
7. روشهای پیشرفته شناخت مواد : مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: سجادی، عبدالکریم ۱۳۴۱ -
المکتبة: المکتبۀ المرکزیۀ ومرکز التوثیق (سمنان)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹ ۱۳۹۲
